首页 - 专利发明 - 附属

文献摘要

如需“文献摘要”全文,请与吕方联系, 电话:(010)64034804、64030431 传真:(010)64068094

2005年文献摘要

一种高压密封结构的故障分析与设计

  【编号】2005-83
  【篇名】一种高压密封结构的故障分析与设计
  【摘要】分析和研究了一种典型的高压密封结构,针对该结构密封不严、压力变化不稳定、O形圈表面磨损和聚四氟乙烯圈受压变形失效等故障,设计出一种新型的密封结构。设计的结构有效地减少了对密封件的磨损,延长了密封件的使用寿命,提高了高压密封仪器的性能和工作效率。