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专利发明

2010年氟塑料专利汇编

一种测量聚四氟乙烯粉体平均粒径及其粒径分布的方法

【编号】2010-42 

【名称】一种测量聚四氟乙烯粉体平均粒径及其粒径分布的方法

【摘要】本发明提供了一种测量聚四氟乙烯粉体平均粒径(D50,又称中位径)及其粒径分布的方法,其包括以洗洁精/异丙醇为浸润体系,以水为分散介质,用激光粒度仪测量分散体系中聚四氟乙烯粉体的平均粒径及其粒径分布,适于2μm-300μm的聚四氟乙烯粉体平均粒径的测量;以及,以压缩气体为分散介质,将分散压力控制在0.4~1.0bar,用激光粒度仪测量分散体系中聚四氟乙烯粉体的平均粒径及其粒径分布,适于200μm-1000μm的聚四氟乙烯粉体平均粒径的测量。本发明的方法能够方便、快速、稳定地测量聚四氟乙烯粉体的平均粒径及其粒径分布,适于2μm-1000μm聚四氟乙烯粉体平均粒径的测量。