【编号】2015-31
　　【名称】一种PTFE微孔薄膜厚度测试方法
　　【公开（公告）号】CN104729397A
　　【公开（公告）日期】2015.06.24
　　【申请（专利权）人】厦门三维丝环保股份有限公司
　　【摘要】本发明公开一种PTFE微孔薄膜厚度测试方法，测试方法包括如下步骤：A、将PTFE薄膜平整无褶皱地重叠缠绕在厚度测试固定板上，缠绕n(n≥5)圈；B、将磁性金属基体置于水平台面上，叠加上缠好被测PTFE薄膜的厚度测试固定板，在膜与磁性金属基体重合的上方再放置已知厚度的薄片；C、用连接涂层测厚仪的F1测头测试缠绕的PTFE膜加已知厚度的薄片的总厚度；D、计算PTFE膜厚度。采用本发明的测试方法，在测试过程中简单快速，测试精度高，同时由于测试仪器精简易携，只要能找到水平的地方即可测试。